Best Paper Award CAS 2018 απονεμήθηκε στο Eργαστήριο Ηλεκτρονικής της Σχολής Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών του Πολυτεχνείου Κρήτης, στο πλαίσιο του διεθνούς συνεδρίου CAS 2018, για την εργασία:
'Modeling of High Total Ionizing Dose (TID) Effects for Enclosed Layout Transistors in 65 nm Bulk CMOS',
Aristeidis Nikolaou 1, Matthias Bucher 1 Nikolaos Makris1, Alexia Papadopoulou 1, Loukas Chevas1, Giulio Borghello2,4, Henri D. Koch3,4, Federico Faccio 4
που υλοποιήθηκε υπό την επίβλεψη του Αναπληρωτή Καθηγητή Ματτίας Μπούχερ.
Την εργασία παρουσίασε o Υποψήφιος Διδάκτορας ΗΜΜΥ, κ. Άρης Νικολάου, στο πλαίσιο του Συνεδρίου CAS 2018, 41st IEEE International Semiconductor Conference, Sinaia, Romania, Oct. 10-12, 2018, όπου έλαβε το 'Best Paper Award', στην ενότητα 'Modelling'. Η εργασία έγινε σε συνεργασία της ομάδας του Αναπλ. Καθ. Μπούχερ με ερευνητές στο CERN, (Γενεύη, Ελβετίας).
1 School of Electrical and Computer Engineering, Technical University of Crete, Chania, Greece
2 DPIA, Università degli Studi di Udine, Udine, Italy
3 SEMi, Université de Mons, Mons, Belgium
4 EP Dept., CERN, Geneva, Switzerland